Analyse par diffraction des rayons X et cristallisation

Nous disposons de plusieurs équipements dédiés à l'analyse cristallographique et structurale des matériaux :

• Diffraction des rayons X sur monocristal : nous utilisons un diffractomètre Bruker D8 Venture. Cette technique permet de résoudre des structures cristallines à l'échelle atomique, en déterminant avec précision les positions des atomes dans un réseau cristallin. Elle s'applique principalement aux monocristaux de composés organiques, inorganiques ou organométalliques.
• Diffraction des rayons X sur poudre : nous utilisons également un diffractomètre Panalytical Empyrean, adapté aux échantillons polycristallins. La DRX sur poudre fournit des informations précises sur les phases cristallines présentes dans un matériau. Cette méthode est essentielle pour l'identification et la quantification des phases, l'analyse des mélanges complexes ainsi que pour la caractérisation structurale des matériaux solides.
• Cristallisation : pour préparer des échantillons adaptés à la diffraction, nous utilisons un appareil de cristallisation automatisé CrystalBreeder. Cet équipement optimise les conditions expérimentales pour faciliter la croissance de monocristaux de haute qualité, en particulier pour les composés difficiles à cristalliser.

Applications

La diffraction des rayons X constitue une technique complémentaire aux méthodes spectroscopiques. Elle offre une compréhension approfondie de la structure atomique et cristallographique des matériaux. Cette approche permet notamment de :

• Déterminer la structure atomique de composés complexes
• Identifier et quantifier les phases cristallines dans divers matériaux
• Étudier les polymorphismes et la pureté cristallographique
• Caractériser les matériaux issus de procédés de synthèse ou d'élaboration